| 來自 |
產品編號 |
分類 |
封裝 |
包裝方式 |
描述 |
參數 |
數據表 |
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MSL R3132D46EC-TR-FE |
監控器 |
SON1612-6 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHAN SON1612-6 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:4.6V|輸出:推挽式/圖騰柱|複位:低有效|複位超時:最小為 204ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C |
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MSL R3132D46EC3-TR-FE |
監控器 |
SON1612-6 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHAN SON1612-6 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:4.63V|輸出:推挽式/圖騰柱|複位:低有效|複位超時:最小為 204ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C |
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MSL R3132D46EA3-TR-FE |
監控器 |
SON1612-6 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHAN SON1612-6 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:4.63V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:最小為 204ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C |
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MSL R3132D45EC-TR-FE |
監控器 |
SON1612-6 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHAN SON1612-6 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:4.5V|輸出:推挽式/圖騰柱|複位:低有效|複位超時:最小為 204ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C |
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MSL R3132D45EA-TR-FE |
監控器 |
SON1612-6 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHAN SON1612-6 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:4.5V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:最小為 204ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C |
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MSL R3132D42EA-TR-FE |
監控器 |
SON1612-6 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHAN SON1612-6 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:4.2V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:最小為 204ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C |
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MSL R3132D40EA-TR-FE |
監控器 |
SON1612-6 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHAN SON1612-6 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:4V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:最小為 204ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C |
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MSL R3132D33EA-TR-FE |
監控器 |
SON1612-6 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHAN SON1612-6 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:3.3V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:最小為 204ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C |
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MSL R3132D31EA-TR-FE |
監控器 |
SON1612-6 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHAN SON1612-6 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:3.1V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:最小為 204ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C |
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MSL R3132D30EC-TR-FE |
監控器 |
SON1612-6 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHAN SON1612-6 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:3V|輸出:推挽式/圖騰柱|複位:低有效|複位超時:最小為 204ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C |
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