| 來自 |
產品編號 |
分類 |
封裝 |
包裝方式 |
描述 |
參數 |
數據表 |
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MSL XC6132N13MMR-G |
監控器 |
SOT-26 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT26 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:1.3V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:標準為 20µs|工作溫度:-40°C ~ 125°C(TA) |
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MSL XC6132N12MMR-G |
監控器 |
SOT-26 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT26 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:1.2V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:標準為 20µs|工作溫度:-40°C ~ 125°C(TA) |
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MSL XC6132N11MMR-G |
監控器 |
SOT-26 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT26 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:1.1V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:標準為 20µs|工作溫度:-40°C ~ 125°C(TA) |
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MSL XC6132N10MMR-G |
監控器 |
SOT-26 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT26 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:1V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:標準為 20µs|工作溫度:-40°C ~ 125°C(TA) |
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MSL XC6132N09MMR-G |
監控器 |
SOT-26 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT26 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:0.9V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:標準為 20µs|工作溫度:-40°C ~ 125°C(TA) |
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MSL XC6132N08MMR-G |
監控器 |
SOT-26 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT26 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:0.8V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:標準為 20µs|工作溫度:-40°C ~ 125°C(TA) |
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MSL XC6132N20KMR-G |
監控器 |
SOT-26 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT26 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:2V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:標準為 20µs|工作溫度:-40°C ~ 125°C(TA) |
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MSL XC6132N19KMR-G |
監控器 |
SOT-26 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT26 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:1.9V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:標準為 20µs|工作溫度:-40°C ~ 125°C(TA) |
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MSL XC6132N18KMR-G |
監控器 |
SOT-26 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT26 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:1.8V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:標準為 20µs|工作溫度:-40°C ~ 125°C(TA) |
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MSL XC6132N17KMR-G |
監控器 |
SOT-26 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT26 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:1.7V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:標準為 20µs|工作溫度:-40°C ~ 125°C(TA) |
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