| 來自 |
產品編號 |
分類 |
封裝 |
包裝方式 |
描述 |
參數 |
數據表 |
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MSL XC6132N18HMR-G |
監控器 |
SOT-26 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT26 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:1.8V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:標準為 20µs|工作溫度:-40°C ~ 125°C(TA) |
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MSL XC6132N17HMR-G |
監控器 |
SOT-26 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT26 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:1.7V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:標準為 20µs|工作溫度:-40°C ~ 125°C(TA) |
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MSL XC6132N16HMR-G |
監控器 |
SOT-26 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT26 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:1.6V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:標準為 20µs|工作溫度:-40°C ~ 125°C(TA) |
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MSL XC6132N15HMR-G |
監控器 |
SOT-26 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT26 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:1.5V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:標準為 20µs|工作溫度:-40°C ~ 125°C(TA) |
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MSL XC6132N14HMR-G |
監控器 |
SOT-26 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT26 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:1.4V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:標準為 20µs|工作溫度:-40°C ~ 125°C(TA) |
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MSL XC6132N12HMR-G |
監控器 |
SOT-26 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT26 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:1.2V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:標準為 20µs|工作溫度:-40°C ~ 125°C(TA) |
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MSL XC6132N11HMR-G |
監控器 |
SOT-26 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT26 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:1.1V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:標準為 20µs|工作溫度:-40°C ~ 125°C(TA) |
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MSL XC6132N10HMR-G |
監控器 |
SOT-26 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT26 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:1V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:標準為 20µs|工作溫度:-40°C ~ 125°C(TA) |
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MSL XC6132N09HMR-G |
監控器 |
SOT-26 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT26 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:0.9V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:標準為 20µs|工作溫度:-40°C ~ 125°C(TA) |
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MSL XC6132N08HMR-G |
監控器 |
SOT-26 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT26 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:0.8V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:標準為 20µs|工作溫度:-40°C ~ 125°C(TA) |
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