| 來自 |
產品編號 |
分類 |
封裝 |
包裝方式 |
描述 |
參數 |
數據表 |
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MSL XC6127N35JMR-G |
監控器 |
SOT-25 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT25 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:3.5V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:高有效|複位超時:最小為 340ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C(TA) |
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MSL XC6127N34JMR-G |
監控器 |
SOT-25 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT25 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:3.4V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:高有效|複位超時:最小為 340ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C(TA) |
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MSL XC6127N33JMR-G |
監控器 |
SOT-25 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT25 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:3.3V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:高有效|複位超時:最小為 340ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C(TA) |
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MSL XC6127N32JMR-G |
監控器 |
SOT-25 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT25 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:3.2V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:高有效|複位超時:最小為 340ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C(TA) |
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MSL XC6127N31JMR-G |
監控器 |
SOT-25 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT25 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:3.1V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:高有效|複位超時:最小為 340ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C(TA) |
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MSL XC6127N30JMR-G |
監控器 |
SOT-25 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT25 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:3V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:高有效|複位超時:最小為 340ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C(TA) |
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MSL XC6127N29JMR-G |
監控器 |
SOT-25 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT25 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:2.9V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:高有效|複位超時:最小為 340ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C(TA) |
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MSL XC6127N28JMR-G |
監控器 |
SOT-25 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT25 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:2.8V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:高有效|複位超時:最小為 340ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C(TA) |
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MSL XC6127N27JMR-G |
監控器 |
SOT-25 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT25 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:2.7V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:高有效|複位超時:最小為 340ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C(TA) |
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MSL XC6127N26JMR-G |
監控器 |
SOT-25 |
卷帶(TR) |
IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT25 |
類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:2.6V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:高有效|複位超時:最小為 340ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C(TA) |
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