監控器

監控器

來自 產品編號 分類 封裝 包裝方式 描述 參數 數據表
MSL XC6127N38EMR-G MSL XC6127N38EMR-G 監控器 SOT-25 卷帶(TR) IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT25 類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:3.8V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:最小為 680ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C(TA)
MSL XC6127N37EMR-G MSL XC6127N37EMR-G 監控器 SOT-25 卷帶(TR) IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT25 類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:3.7V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:最小為 680ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C(TA)
MSL XC6127N36EMR-G MSL XC6127N36EMR-G 監控器 SOT-25 卷帶(TR) IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT25 類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:3.6V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:最小為 680ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C(TA)
MSL XC6127N35EMR-G MSL XC6127N35EMR-G 監控器 SOT-25 卷帶(TR) IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT25 類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:3.5V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:最小為 680ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C(TA)
MSL XC6127N34EMR-G MSL XC6127N34EMR-G 監控器 SOT-25 卷帶(TR) IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT25 類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:3.4V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:最小為 680ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C(TA)
MSL XC6127N33EMR-G MSL XC6127N33EMR-G 監控器 SOT-25 卷帶(TR) IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT25 類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:3.3V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:最小為 680ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C(TA)
MSL XC6127N32EMR-G MSL XC6127N32EMR-G 監控器 SOT-25 卷帶(TR) IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT25 類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:3.2V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:最小為 680ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C(TA)
MSL XC6127N31EMR-G MSL XC6127N31EMR-G 監控器 SOT-25 卷帶(TR) IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT25 類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:3.1V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:最小為 680ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C(TA)
MSL XC6127N30EMR-G MSL XC6127N30EMR-G 監控器 SOT-25 卷帶(TR) IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT25 類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:3V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:最小為 680ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C(TA)
MSL XC6127N29EMR-G MSL XC6127N29EMR-G 監控器 SOT-25 卷帶(TR) IC SUPERVISOR 1 CHANNEL SOT25 類型:電壓檢測器|受監控電壓數:1|電壓 - 閾值:2.9V|輸出:開路漏極或開路集電極|複位:低有效|複位超時:最小為 680ms|工作溫度:-40°C ~ 85°C(TA)

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