| 來自 |
產品編號 |
分類 |
封裝 |
包裝方式 |
描述 |
參數 |
數據表 |
 |
MSL CD74HC280MT |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-SOIC |
卷帶(TR) |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOIC |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:5.2mA,5.2mA|電壓 - 供電:2 V ~ 6 V|工作溫度:-55°C ~ 125°C |
|
 |
MSL CD74ACT280E |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-PDIP |
散裝 |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14DIP |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:24mA,24mA|電壓 - 供電:4.5 V ~ 5.5 V|工作溫度:-55°C ~ 125°C |
|
 |
MSL CD74AC280M |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-SOIC |
散裝 |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOIC |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:24mA,24mA|電壓 - 供電:1.5 V ~ 5.5 V|工作溫度:-55°C ~ 125°C |
|
 |
MSL CD74ACT280M |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-SOIC |
管件 |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOIC |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:24mA,24mA|電壓 - 供電:4.5 V ~ 5.5 V|工作溫度:-55°C ~ 125°C |
|
 |
MSL SN74F280BD |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-SOIC |
散裝 |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOIC |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:1mA,20mA|電壓 - 供電:4.5 V ~ 5.5 V|工作溫度:0°C ~ 70°C |
|
 |
MSL SN74180N |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
- |
散裝 |
PARITY GENERATOR/CHECKER, 8-BIT, |
邏輯類型:-|電路數:-|電流 - 輸出高、低:-|電壓 - 供電:-|工作溫度:- |
|
 |
MSL SN74AS280D |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-SOIC |
管件 |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOIC |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:2mA,20mA|電壓 - 供電:4.5 V ~ 5.5 V|工作溫度:0°C ~ 70°C |
|
 |
MSL SN74LS280NSR |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-SO |
卷帶(TR) |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOP |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:400µA,8mA|電壓 - 供電:4.75 V ~ 5.25 V|工作溫度:0°C ~ 70°C |
|
 |
MSL SN74LS280D |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-SOIC |
管件 |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOIC |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:400µA,8mA|電壓 - 供電:4.75 V ~ 5.25 V|工作溫度:0°C ~ 70°C |
|
 |
MSL ICL8211CBA-TS2463 |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
- |
散裝 |
HIGH ACCURACY PROGRAMMABLE VOLTA |
邏輯類型:-|電路數:-|電流 - 輸出高、低:-|電壓 - 供電:-|工作溫度:- |
|