| 來自 |
產品編號 |
分類 |
封裝 |
包裝方式 |
描述 |
參數 |
數據表 |
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MSL RO-3-2513 |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
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散裝 |
CHARACTER GENERATOR |
邏輯類型:-|電路數:-|電流 - 輸出高、低:-|電壓 - 供電:-|工作溫度:- |
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MSL 74F402PC |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
16-PDIP |
管件 |
IC PARITY GEN/CHKER 16-BIT 16DIP |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:16 位|電流 - 輸出高、低:5.7mA,16mA|電壓 - 供電:4.5 V ~ 5.5 V|工作溫度:0°C ~ 70°C |
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MSL SN74AS286N |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-PDIP |
散裝 |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14DIP |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:15mA,48mA;2mA,20mA|電壓 - 供電:4.5 V ~ 5.5 V|工作溫度:0°C ~ 70°C |
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MSL PY28349BOC |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
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散裝 |
FREQUENCY TIMING GENERATOR FOR I |
邏輯類型:-|電路數:-|電流 - 輸出高、低:-|電壓 - 供電:-|工作溫度:- |
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MSL QS74FCT1280ATSO |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
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散裝 |
PARITY GENERATOR/CHECKER, 9-BIT |
邏輯類型:-|電路數:-|電流 - 輸出高、低:-|電壓 - 供電:-|工作溫度:- |
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MSL SN74ALS280N |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-PDIP |
管件 |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14DIP |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:2.6mA,24mA|電壓 - 供電:4.5 V ~ 5.5 V|工作溫度:0°C ~ 70°C |
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MSL SN74ALS280DR |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-SOIC |
卷帶(TR) |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOIC |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:2.6mA,24mA|電壓 - 供電:4.5 V ~ 5.5 V|工作溫度:0°C ~ 70°C |
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MSL QS74FCT280BTS1 |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
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散裝 |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:-|電壓 - 供電:4.75 V ~ 5.25 V|工作溫度:0°C ~ 70°C |
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MSL QS74FCT1280TS0 |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
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散裝 |
PARITY GENERATOR/CHECKER, FCT S |
邏輯類型:-|電路數:-|電流 - 輸出高、低:-|電壓 - 供電:-|工作溫度:- |
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MSL QS74FCT1280TQ |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
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散裝 |
PARITY GENERATOR/CHECKER, 9-BIT |
邏輯類型:-|電路數:-|電流 - 輸出高、低:-|電壓 - 供電:-|工作溫度:- |
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