| 來自 | 產品編號 | 分類 | 封裝 | 包裝方式 | 描述 | 參數 | 數據表 |
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MSL CD4089BNSR | 專用邏輯器件 | 16-SO | 卷帶(TR) | IC BINARY RATE MULTIPLR 16SO | 邏輯類型:二進位比率倍增器|供電電壓:3V ~ 18V|位數:4|工作溫度:-55°C ~ 125°C | |
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MSL SN74BCT8373ADW | 專用邏輯器件 | 24-SOIC | 散裝 | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | 邏輯類型:掃描測試設備,帶 D 型鎖存器|供電電壓:4.5V ~ 5.5V|位數:8|工作溫度:0°C ~ 70°C | |
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MSL 74AUP1Z125GS,132 | 專用邏輯器件 | - | 散裝 | 74AUP1Z125 - LOW-POWER X-TAL DRI | 邏輯類型:-|供電電壓:-|位數:-|工作溫度:- | |
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MSL SY10EL16VFZI | 專用邏輯器件 | 8-SOIC | 散裝 | IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-SOIC | 邏輯類型:差分接收器|供電電壓:3.3V,5V|位數:1|工作溫度:-40°C ~ 85°C | |
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MSL SY10EP16UZG | 專用邏輯器件 | 8-SOIC | 管件 | IC RCVR HS DIFF 2.5/3.3V 8-SOIC | 邏輯類型:差分接收器/驅動器|供電電壓:2.375V ~ 3.6V|位數:1|工作溫度:-40°C ~ 85°C | |
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MSL LA5311MC-GH | 專用邏輯器件 | - | 散裝 | VOLTAGE GENERATOR | 邏輯類型:-|供電電壓:-|位數:-|工作溫度:- | |
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MSL SN74BCT8240ADW | 專用邏輯器件 | 24-SOIC | 散裝 | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | 邏輯類型:掃描測試設備,帶反相緩衝器|供電電壓:4.5V ~ 5.5V|位數:8|工作溫度:0°C ~ 70°C | |
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MSL 74AUP1Z04GN,132 | 專用邏輯器件 | - | 散裝 | NEXPERIA 74AUP1Z04GN - BUS DRIVE | 邏輯類型:-|供電電壓:-|位數:-|工作溫度:- | |
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MSL DM74S182N | 專用邏輯器件 | 16-PDIP | 管件 | IC GENERATOR LOOK-AHEAD 16-DIP | 邏輯類型:超前進位發生器|供電電壓:4.75V ~ 5.25V|位數:4|工作溫度:0°C ~ 70°C | |
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MSL SY10EL16VCZG | 專用邏輯器件 | 8-SOIC | 管件 | IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-SOIC | 邏輯類型:差分接收器|供電電壓:3.3V,5V|位數:1|工作溫度:-40°C ~ 85°C |