| 來自 |
產品編號 |
分類 |
封裝 |
包裝方式 |
描述 |
參數 |
數據表 |
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MSL 74HC02N,652 |
門和反相器 |
14-DIP |
管件 |
IC GATE NOR 4CH 2-INP 14DIP |
邏輯類型:或非門|電路數:4|輸入數:2|特性:-|電壓 - 供電:2V ~ 6V|電流 - 靜態(最大值):2 µA|電流 - 輸出高、低:5.2mA,5.2mA|邏輯電平 - 低:0.5V ~ 1.8V|邏輯電平 - 高:1.5V ~ 4.2V|不同 V、最大 CL 時最大傳播延遲:15ns @ 6V,50pF|工作溫度:-40°C ~ 125°C |
PDF |
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MSL 74HC1G32GW,165 |
門和反相器 |
5-TSSOP |
卷帶(TR) |
IC GATE OR 1CH 2-INP 5TSSOP |
邏輯類型:或門|電路數:1|輸入數:2|特性:-|電壓 - 供電:2V ~ 6V|電流 - 靜態(最大值):20 µA|電流 - 輸出高、低:2.6mA,2.6mA|邏輯電平 - 低:0.5V ~ 1.8V|邏輯電平 - 高:1.5V ~ 4.2V|不同 V、最大 CL 時最大傳播延遲:23ns @ 6V,50pF|工作溫度:-40°C ~ 125°C |
PDF |
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MSL 74F280SC |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-SOIC |
管件 |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOIC |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:1mA,20mA|電壓 - 供電:4.5 V ~ 5.5 V|工作溫度:0°C ~ 70°C |
PDF |
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MSL 74F280SCX |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-SOIC |
散裝 |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOIC |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:1mA,20mA|電壓 - 供電:4.5 V ~ 5.5 V|工作溫度:0°C ~ 70°C |
PDF |
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MSL 74F280SCX |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-SOIC |
卷帶(TR) |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOIC |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:1mA,20mA|電壓 - 供電:4.5 V ~ 5.5 V|工作溫度:0°C ~ 70°C |
PDF |
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MSL 74ACT843SPC |
鎖存器 |
24-PDIP |
管件 |
IC D-TYPE TRANSP SGL 9:9 24DIP |
邏輯類型:D 型透明鎖存器|電路:9:9|輸出類型:三態|電壓 - 供電:4.5V ~ 5.5V|獨立電路:1|延遲時間 - 傳播:5.5ns|電流 - 輸出高、低:24mA,24mA|工作溫度:-40°C ~ 85°C |
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MSL 74ACT843SPC |
鎖存器 |
24-PDIP |
管件 |
BUS DRIVER |
邏輯類型:D 型透明鎖存器|電路:9:9|輸出類型:三態|電壓 - 供電:4.5V ~ 5.5V|獨立電路:1|延遲時間 - 傳播:5.5ns|電流 - 輸出高、低:24mA,24mA|工作溫度:-40°C ~ 85°C |
PDF |
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MSL 74AC280SC |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-SOIC |
管件 |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOIC |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:24mA,24mA|電壓 - 供電:2 V ~ 6 V|工作溫度:-40°C ~ 85°C |
PDF |
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MSL 74AC280SCX |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-SOIC |
散裝 |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOIC |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:24mA,24mA|電壓 - 供電:2 V ~ 6 V|工作溫度:-40°C ~ 85°C |
PDF |
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MSL 74AC280SCX |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-SOIC |
卷帶(TR) |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOIC |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:24mA,24mA|電壓 - 供電:2 V ~ 6 V|工作溫度:-40°C ~ 85°C |
PDF |