| 來自 |
產品編號 |
分類 |
封裝 |
包裝方式 |
描述 |
參數 |
數據表 |
 |
MSL 74HCT280PWJ |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-TSSOP |
卷帶(TR) |
74HCT280PW/SOT402/TSSOP14 |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9|電流 - 輸出高、低:4mA,4mA|電壓 - 供電:4.5 V ~ 5.5 V|工作溫度:-40°C ~ 125°C |
PDF |
 |
MSL 74HC280D,653 |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-SO |
卷帶(TR) |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SO |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:-|電壓 - 供電:2 V ~ 6 V|工作溫度:- |
PDF |
 |
MSL 74HC280D,653 |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
- |
散裝 |
NEXPERIA 74HC280D - PARITY GENER |
邏輯類型:-|電路數:-|電流 - 輸出高、低:-|電壓 - 供電:-|工作溫度:- |
PDF |
 |
MSL 74F280SC |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-SOIC |
管件 |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOIC |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:1mA,20mA|電壓 - 供電:4.5 V ~ 5.5 V|工作溫度:0°C ~ 70°C |
PDF |
 |
MSL 74F280SCX |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-SOIC |
散裝 |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOIC |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:1mA,20mA|電壓 - 供電:4.5 V ~ 5.5 V|工作溫度:0°C ~ 70°C |
PDF |
 |
MSL 74F280SCX |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-SOIC |
卷帶(TR) |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOIC |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:1mA,20mA|電壓 - 供電:4.5 V ~ 5.5 V|工作溫度:0°C ~ 70°C |
PDF |
 |
MSL 74AC280SC |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-SOIC |
管件 |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOIC |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:24mA,24mA|電壓 - 供電:2 V ~ 6 V|工作溫度:-40°C ~ 85°C |
PDF |
 |
MSL 74AC280SCX |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-SOIC |
散裝 |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOIC |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:24mA,24mA|電壓 - 供電:2 V ~ 6 V|工作溫度:-40°C ~ 85°C |
PDF |
 |
MSL 74AC280SCX |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-SOIC |
卷帶(TR) |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOIC |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:24mA,24mA|電壓 - 供電:2 V ~ 6 V|工作溫度:-40°C ~ 85°C |
PDF |
 |
MSL MC74F182N |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
- |
散裝 |
LOOK-AHEAD CARRY GENERATOR, F/FA |
邏輯類型:-|電路數:-|電流 - 輸出高、低:-|電壓 - 供電:-|工作溫度:- |
|