| 來自 |
產品編號 |
分類 |
封裝 |
包裝方式 |
描述 |
參數 |
數據表 |
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MSL SN74LS280N |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-PDIP |
管件 |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14DIP |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:400µA,8mA|電壓 - 供電:4.75 V ~ 5.25 V|工作溫度:0°C ~ 70°C |
PDF |
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MSL SN74LS280N |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-PDIP |
管件 |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14DIP |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:400µA,8mA|電壓 - 供電:4.75 V ~ 5.25 V|工作溫度:0°C ~ 70°C |
PDF |
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MSL SN74LS280NS |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
- |
散裝 |
9-BIT GEN/CHKER 14SO |
邏輯類型:-|電路數:-|電流 - 輸出高、低:-|電壓 - 供電:-|工作溫度:- |
PDF |
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MSL SN74LS280NS |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-SO |
管件 |
PROTOTYPE |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9|電流 - 輸出高、低:400µA,8mA|電壓 - 供電:4.75 V ~ 5.25 V|工作溫度:0°C ~ 70°C |
PDF |
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MSL SN74LS259BDR |
鎖存器 |
16-SOIC |
卷帶(TR) |
IC 8BIT ADDRESSBLE LATCH 16-SOIC |
邏輯類型:D 型,可尋址|電路:1:8|輸出類型:標準|電壓 - 供電:4.75V ~ 5.25V|獨立電路:1|延遲時間 - 傳播:19ns|電流 - 輸出高、低:400µA,8mA|工作溫度:0°C ~ 70°C |
PDF |
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MSL SN74F280BNSR |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-SO |
卷帶(TR) |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOP |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:1mA,20mA|電壓 - 供電:4.5 V ~ 5.5 V|工作溫度:0°C ~ 70°C |
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MSL SN74F280BN |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-PDIP |
散裝 |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14DIP |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:1mA,20mA|電壓 - 供電:4.5 V ~ 5.5 V|工作溫度:0°C ~ 70°C |
PDF |
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MSL SN74F280BNS |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-SO |
管件 |
PROTOTYPE |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9|電流 - 輸出高、低:1mA,20mA|電壓 - 供電:4.5 V ~ 5.5 V|工作溫度:0°C ~ 70°C |
PDF |
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MSL SN74F280BDR |
奇偶校驗發生器和校驗器 |
14-SOIC |
卷帶(TR) |
IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOIC |
邏輯類型:奇偶校驗發生器/校驗器|電路數:9 位|電流 - 輸出高、低:1mA,20mA|電壓 - 供電:4.5 V ~ 5.5 V|工作溫度:0°C ~ 70°C |
PDF |
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MSL SN74AHCT08DRG4 |
門和反相器 |
14-SOIC |
卷帶(TR) |
IC GATE AND 4CH 2-INP 14SOIC |
邏輯類型:與門|電路數:4|輸入數:2|特性:-|電壓 - 供電:4.5V ~ 5.5V|電流 - 靜態(最大值):2 µA|電流 - 輸出高、低:8mA,8mA|邏輯電平 - 低:0.8V|邏輯電平 - 高:2V|不同 V、最大 CL 時最大傳播延遲:7.9ns @ 5V,50pF|工作溫度:-40°C ~ 125°C(TA) |
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